Szkolenia Katalog szkoleń Metody statystyczne STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ - szkolenie online
AS-SPC_MSA-ONL

STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ - szkolenie online

Cele szkolenia

  • Przedstawienie, szczegółowe omówienie, praktyczne wykorzystanie i interpretacja wyników w zakresie stosowania narzędzi statystycznego sterowania procesem (SPC) i kwalifikacji systemów pomiarowych (MSA) zgodnie
    z aktualnymi wymaganiami branży lotniczej - SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis”


    Podstawę formalną stanowią normy: SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis” wraz z wszystkimi dokumentami powiązanymi, m.in. AS13003:2015, AS13006:2018, ASTM E2782:2014, ISO 22514-7:2021, AIAG Reference Manual MSA 4-th ed.2010, Detroid MI, AIAG Reference Manual SPC 2-nd ed.2005, Detroid MI, Breyfogle 2003 (ISBN 0-471-26572-1), Minitab suport documentation (www.minitab.com).

Symbol szkolenia

AS-SPC_MSA-ONL
Dostępna wersja stacjonarna

Terminy i miejsce

  • 15 - 17 czerwca 2026
    Lokalizacja: Online

Szacunkowy udział części praktycznej: 65%

Czas trwania: 3 dni po 7 godz.

Program i ćwiczenia:

Część 1 - Statystyczne sterowanie procesem (SPC).

  • Proces stabilny/rozregulowany.
  • Ocena zdolności procesu (współczynniki Pp, Ppk, Cp, Cpk): dwustronna granica specyfikacji/jednostronna granica specyfikacji, rozkład normalny/rozkład inny od rozkładu normalnego (transformacje Box-Cox/Johnson, procedura dopasowanie rozkładu). Zdolność Between/Within. Funkcja straty.
  • Zdolność procesu w przypadku oceny atrybutowej.
  • Karty kontrolne Shewharta w przypadku parametrów mierzalnych (xbar-R,I-MR, karta I-MR-R/S – dobór, konstrukcja, interpretacja). Karty kontrolne w przypadku oceny alternatywnej (p, np., c, u – dobór, konstrukcja, interpretacja). Inne karty kontrolne (w przypadku rozkładów innych od normalnego, w przypadku tzw. zdarzeń rzadkich).
  • Równoczesne monitorowanie procesu ze względu na wiele parametrów. Krótkie serie (karta prekontroli Green-Yellow-Red, karta DNOM odchyleń od wartości nominalnej). Organizacja SPC (korzyści, pokonywanie przeciwności, zalecenia odnośnie treningu).
  • Relacje SPC/PFMEA.

 

Część 2 - Analiza systemów pomiarowych (MSA).

  • Pojęcia podstawowe (proces/system pomiarowy, poprawność – błąd systematyczny, stabilność, liniowość; precyzja - powtarzalność, odtwarzalność, interakcja ).
  • Podział charakterystyk Critical/Major/Minor.
  • Ocena procesu pomiarowego (EMP – Evaluating the Measurement Process): jeden operator/urządzenie pomiarowe/jedna część, jeden operator/urządzenie pomiarowe/kilka części, kilku operatorów/urządzenia pomiarowe/kilka części.
  • Metody i kryteria kwalifikacji (Short/Basic EMP Study)–analiza wariancji (ANOVA) (preferowana !!!), metoda średniej
    i rozstępu, ocena spójności (Consistency Study), zasady wyznaczanie i interpretacja pasm ochronnych (Guard Bands), współczynnik korelacji wewnątrzklasowej (Interclass Correlation Coefficient ICC).
  • Współczynniki: precyzja/do tolerancji P/T, liczba rozróżnialnych kategorii ndc – wyznaczanie, interpretacja.
  • Analiza graficzna – karta kontrolna wartości średniej i rozstępu, wykres interakcji, wykorzystanie karty ANOM, karty przebiegu procesu pomiarowego, wykresy typu Multi-Vari Charts. Ocena błędu systematycznego (bias) oraz liniowości.
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg, Cgk (Cg, Cgk Study).
  • Kwalifikacja w przypadku jednostronnej granicy specyfikacji. Ocena wpływu temperatury.
  • MSA w przypadku oceny atrybutowej – metoda długa (R&R dla atrybutów), współczynnik kappa Cohena – technika, interpretacja.
  • Dane porządkowe (np. skale wzorców – wielkość ziarna, wtrącenia niemetaliczne) – wyznaczanie i interpretacja współczynnika ICC (Interclass Correlation Coefficient).
  • Wykorzystanie metod planowania eksperymentu (DOE) w MSA. Powiązania MSA/FMEA.

Korzyści dla uczestnika:

Uczestnik nauczy się:

 

·         Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA w branży lotniczej .

·         Dokonywać statystycznej analizy danych pochodzących z procesu.

·         Określać warunki jakie muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA.

·         Posługiwać się narzędziami SPC i MSA  w sposób praktyczny – dobierając narzędzia, zasady rachunkowe i interpretacyjne.

 

Uczestnik dowie się:

·         Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta.

·         Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSA w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis”

·         Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA.

·         Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych. 

Metodyka:

Szkolenie ma charakter warsztatowy. Wszystkie podejmowane zagadnienia ilustrowane są wieloma przykładami, w których uwaga skierowana jest zarówno na stronę rachunkową (Minitab), jak i na stronę znaczeniową (interpretacja otrzymanych wyników w aspekcie oceny jakości procesów produkcyjnego/ pomiarowego oraz możliwości ich doskonalenia.

Adresaci:

·         specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy,

·         osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy,

·         osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie,

·         osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem,

·         osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,

·         pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.

Dodatkowe informacje:

Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi. 
Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji. Materiały dostępne w wersji elektronicznej.
478747
Data startu:
15.06.2026
Data zakończenia:
17.06.2026
Lokalizacja:
Online

Identyfikacja szkolenia

ID szkolenia (TQM ID):
30498
Symbol szkolenia:
AS-SPC_MSA-ONL
Nazwa szkolenia:
STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ - szkolenie online
Status produktu szkoleniowego:
Aktualne
Typ szkolenia:
szkolenie otwarte i zamknięte
Ostatnia synchronizacja:
30 July 2024 08:56
Ostatnia aktualizacja:
14 January 2026 15:25

Dane szkolenia

Język szkolenia:
Polski
Czas trwania:
3 dni po 7 godz.
Dni szkoleniowe:
3
Szacunkowy udział części praktycznej:
65
Slug szkolenia powiązanego:
statystyczne-sterowanie-procesem-spc-analiza-systemow-pomiarowych-msa-wedlug-wymagan-branzy-lotniczej

Kategorie

Tematyka główna:
Metody statystyczne
URL tematyki:
/metody-statystyczne/

Dane terminów

Szkolenie zdalne (online):
Gwarantowane:
Gwarantowany:
Wybierz termin:
2026-06-15
Najbliższy termin - zakończenie:
2026-06-17
Najbliższy termin - cena netto:
3000
Najbliższy termin - cena brutto:
0
Najbliższy termin - rozpoczęcie godzina:
15 June 2026 08:30
Najbliższy termin - zakończenie godzina:
17 June 2026 15:30

Treści opisowe

Program i ćwiczenia:

Część 1 - Statystyczne sterowanie procesem (SPC).

  • Proces stabilny/rozregulowany.
  • Ocena zdolności procesu (współczynniki Pp, Ppk, Cp, Cpk): dwustronna granica specyfikacji/jednostronna granica specyfikacji, rozkład normalny/rozkład inny od rozkładu normalnego (transformacje Box-Cox/Johnson, procedura dopasowanie rozkładu). Zdolność Between/Within. Funkcja straty.
  • Zdolność procesu w przypadku oceny atrybutowej.
  • Karty kontrolne Shewharta w przypadku parametrów mierzalnych (xbar-R,I-MR, karta I-MR-R/S – dobór, konstrukcja, interpretacja). Karty kontrolne w przypadku oceny alternatywnej (p, np., c, u – dobór, konstrukcja, interpretacja). Inne karty kontrolne (w przypadku rozkładów innych od normalnego, w przypadku tzw. zdarzeń rzadkich).
  • Równoczesne monitorowanie procesu ze względu na wiele parametrów. Krótkie serie (karta prekontroli Green-Yellow-Red, karta DNOM odchyleń od wartości nominalnej). Organizacja SPC (korzyści, pokonywanie przeciwności, zalecenia odnośnie treningu).
  • Relacje SPC/PFMEA.

 

Część 2 - Analiza systemów pomiarowych (MSA).

  • Pojęcia podstawowe (proces/system pomiarowy, poprawność – błąd systematyczny, stabilność, liniowość; precyzja - powtarzalność, odtwarzalność, interakcja ).
  • Podział charakterystyk Critical/Major/Minor.
  • Ocena procesu pomiarowego (EMP – Evaluating the Measurement Process): jeden operator/urządzenie pomiarowe/jedna część, jeden operator/urządzenie pomiarowe/kilka części, kilku operatorów/urządzenia pomiarowe/kilka części.
  • Metody i kryteria kwalifikacji (Short/Basic EMP Study)–analiza wariancji (ANOVA) (preferowana !!!), metoda średniej
    i rozstępu, ocena spójności (Consistency Study), zasady wyznaczanie i interpretacja pasm ochronnych (Guard Bands), współczynnik korelacji wewnątrzklasowej (Interclass Correlation Coefficient ICC).
  • Współczynniki: precyzja/do tolerancji P/T, liczba rozróżnialnych kategorii ndc – wyznaczanie, interpretacja.
  • Analiza graficzna – karta kontrolna wartości średniej i rozstępu, wykres interakcji, wykorzystanie karty ANOM, karty przebiegu procesu pomiarowego, wykresy typu Multi-Vari Charts. Ocena błędu systematycznego (bias) oraz liniowości.
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg, Cgk (Cg, Cgk Study).
  • Kwalifikacja w przypadku jednostronnej granicy specyfikacji. Ocena wpływu temperatury.
  • MSA w przypadku oceny atrybutowej – metoda długa (R&R dla atrybutów), współczynnik kappa Cohena – technika, interpretacja.
  • Dane porządkowe (np. skale wzorców – wielkość ziarna, wtrącenia niemetaliczne) – wyznaczanie i interpretacja współczynnika ICC (Interclass Correlation Coefficient).
  • Wykorzystanie metod planowania eksperymentu (DOE) w MSA. Powiązania MSA/FMEA.
Korzyści dla uczestnika:

Uczestnik nauczy się:

 

·         Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA w branży lotniczej .

·         Dokonywać statystycznej analizy danych pochodzących z procesu.

·         Określać warunki jakie muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA.

·         Posługiwać się narzędziami SPC i MSA  w sposób praktyczny – dobierając narzędzia, zasady rachunkowe i interpretacyjne.

 

Uczestnik dowie się:

·         Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta.

·         Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSA w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis”

·         Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA.

·         Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych. 

Metodyka:

Szkolenie ma charakter warsztatowy. Wszystkie podejmowane zagadnienia ilustrowane są wieloma przykładami, w których uwaga skierowana jest zarówno na stronę rachunkową (Minitab), jak i na stronę znaczeniową (interpretacja otrzymanych wyników w aspekcie oceny jakości procesów produkcyjnego/ pomiarowego oraz możliwości ich doskonalenia.

Adresaci:

·         specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy,

·         osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy,

·         osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie,

·         osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem,

·         osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,

·         pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.

Dodatkowe informacje:
Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi. 
Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji. Materiały dostępne w wersji elektronicznej.

Dodatkowe informacje

Potrzebujesz pomocy?:

Szkolenia otwarte i zamknięte

Karolina  Paluch

Karolina Paluch

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.zamkniete@tqmsoft.eu
  798 982 919

Anna Wnęk

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu
  452 268 626

Powiązane artykuły

ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA)

W roku 2021 ukazały się Podręczniki Referencyjne RM 13006 „Process Control Methods” oraz RM 13003 „Measurement Systems Analysis” stanowiące uzupełnienie, rozwinięcie, szeroką wykładnię i interpretację wymagań odnośnie SPC i MSA [...].
Przeczytaj więcej

Najbliższe szkolenie otwarte

Termin *
3000.00 zł netto 3690.00 zł brutto
Trwa przeliczanie ceny...
Miejsca
Trwa sprawdzanie stanu magazynowego...

Jak się zgłosić na szkolenie?

  1. Pobierz kartę zgłoszenia
  2. Wypełnij i opieczętuj
  3. Wyślij na szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu

Gotowe!


Szukasz

innego terminu, miasta
a masz do przeszkolenia minimum 4 pracowników?

Zapytaj nas o możliwości

Potrzebujesz pomocy?

Szkolenia otwarte i zamknięte

Karolina  Paluch

Karolina Paluch

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.zamkniete@tqmsoft.eu
  798 982 919

Anna Wnęk

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu
  452 268 626

Szkolenia Katalog szkoleń Metody statystyczne STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ - szkolenie online
Ustawienia dostępności
Wysokość linii
Odległość między literami
Wyłącz animacje
Przewodnik czytania
Czytnik
Wyłącz obrazki
Skup się na zawartości
Większy kursor
Skróty klawiszowe