Statystyczne sterowanie procesem - warsztaty doskonalące

1. Wprowadzenie. Normy, dokumenty dotyczące SPC – stan aktualny.

2.       Zmienność, Podstawowa statystyczna analiza danych. Proces stabilny/rozregulowany. Statystyczny opis zmienności – wizualizacja danych,  parametry opisowe. Przygotowanie danych do analizy – identyfikacja wyników izolowanych.

3.       Zdolność procesu/maszyny. Obliczanie i szczegółowa interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny  - rozkład normalny/inny od normalnego, dwustronne/jednostronne  granice specyfikacji. Przegląd wszystkich obecnie wykorzystywanych strategii oceny zdolności procesu/maszyny

4.       Karty przebiegu procesu. Karty kontrolne. Zasady funkcjonowania kart przebiegu procesu (run charts) oraz kart kontrolnych. Karty kontrolne Shewharta – konstrukcja, wykorzystanie. Czułość karty kontrolnej. Inne karty kontrolne ( rozkład inny od rozkładu normalnego, karty DNOM,EWMA).

5.       Wzajemne relacje pomiędzy SPC – MSA. Kryteria zdatności systemu pomiarowego do oceny  zachowania się procesu ze względu na zmienność. „Grube dane”

Ćwiczenia, studium przypadków

1. Statystyczna analiza danych. Parametry opisowe - miary położenia, rozrzutu, kształtu. Wizualizacja – histogram, wykres pudełkowy, wykres punktowy, dystrybuanta. Identyfikacja wyników izolowanych (outliers) – testy Grubbsa, Dixona, Hampela.

2.       Rozkład normalny. Identyfikacja – graficzny test normalności, test Andersona-Darlinga, test chi-kwadrat. Reguła 3-sigma. Frakcja realizacji poza specyfikacją – wyznaczanie.

3.       Ocena zdolności procesu/maszyny. Wyznaczanie i interpretacja współczynników Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cm, Cmk (wg ISO/TR 22514-3 – Pm, Pmk). Przypadki – rozkład normalny/rozkład inny od normalnego, dwustronne/jednostronne granice specyfikacji, postępowanie w przypadku granic naturalnych. Metody rachunkowe: rozkład normalny – w oparciu o regułę 3-sigma, rozkład inny od normalnego – transformacja danych (Box-Cox, Johnson), metoda percentylowa (dopasowanie rozkładu, metoda przybliżona Clementsa, metoda oparta o przedział tolerancji naturalnej).

4.       Ocena zdolności procesu/maszyny – dodatkowe zagadnienia. Dokładność oceny współczynników zdolności. Wpływ zmienności systemu pomiarowego na ocena współczynników zdolności. Inne współczynniki zdolności – współczynnik Cpm, zdolność between/within. Zdolność w przypadku oceny alternatywnej.

5.       Karta przebiegu procesu (run chart). Konstrukcja, zasady wykorzystania.

6.       Karty kontrolne Shewharta. Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta dla cech mierzalnych  (metoda stabilizacyjna tj. na podstawie wstępnych danych z procesu, metoda projektowa) -  karta wartości średniej i rozstępu, karta wartości średniej i odchylenia standardowego, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu. Ocena zdolności procesu na podstawie kart kontrolnych. Czułość kart kontrolnych – zdolność do detekcji zmian w procesie.  Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: dobór liczności próbki, częstość próbkowania, metody próbkowania. Praktyczne posługiwanie się kartą kontrolną - kryteria oceny zachowania się procesu ze względu na zmienność. Zasady „czytania” kart kontrolnych - sygnały, trendy, serie, „obklejanie” linii kontrolnych, „obklejanie” linii centralnej, periodyczność, rola i znaczenie linii ostrzegawczych, testy strefowe. Karty kontrolne w przypadku oceny atrybutowej (jednostka zgodna/niezgodna, identyfikacja i zliczanie niezgodności): p, np, c, u.

7.       Karty kontrolne – dodatkowe zagadnienia. Konstrukcja kart w przypadku rozkładu innego od rozkładu normalnego. Karta odchyleń od wartości nominalnej – karta DNOM. Karta wykładniczo ważonej ruchomej średniej – karta EWMA.

W analizach rachunkowych może być wykorzystywany Excel albo Minitab.

Cena szkolenia obejmuje: