Szkolenia Katalog szkoleń Metrologia i kontrola, laboratoria Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
MSARR-N

Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych

Cele szkolenia

·       przypomnienie pojęć i wskaźników związanych z oceną zdolności i stabilności systemu pomiarowego,

·       zdobycie umiejętności wyboru i stosowania głównych metod badania zdolności systemów pomiarowych (wg wytycznych MSA - Measurement System Analysis, AIAG, 4th Edition, 2010) dla właściwości mierzalnych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. testów niszczących, pomiarów wpływających na wielkość mierzoną, pomiarów charakterystyk zmiennych w czasie, itp.),

·       uzyskanie umiejętności interpretacji wyników analizy oraz identyfikacji przyczyn ewentualnej negatywnej oceny systemu,

·       zdobycie wiedzy pozwalającej na ocenę przydatności metod MSA dla pomiarów niepowtarzalnych stosowanych w firmie oraz na wspieranie wdrożenia wybranych metod.

Symbol szkolenia

MSARR-N
Dostępna wersja online

Terminy i miejsce

  • 08 - 10 czerwca 2026
    Lokalizacja: Kraków, ul. Bociana 22a

Szacunkowy udział części praktycznej: 80%

Czas trwania: 3 dni po 8 godz.

Program i ćwiczenia:

1.  Zdolność systemu pomiarowego. 
2.  Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru. 
3.  Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 
4.  Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka. 
5.  Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny). 
6.  Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R). 
7.  Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV). 
8.  Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc). 
9.  Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 
10.  Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego. 
11.  Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych. 
12.  Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4). 
13.  Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności. 
14.  Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b). 
15.  Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania. 
16.  Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona). 
17.  Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz. 
 
Ćwiczenia: 
  • Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka). 
  • Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności. 
  • Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania. 
  • Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel). 
  • Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 
 
W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem. 

Korzyści dla przedsiębiorstwa:

Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?

Metodyka:

 

Adresaci:

  • Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym. 
  • Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych. 
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC. 
  • Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. 
  • Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań IATF 16949. 
  • Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt). 
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów. 
  • Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców. 
  • Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości. 
  • Inżynierowie procesu. 
  • Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów. 
  • Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Zastosowanie:

Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. 
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). 
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek. 
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.

Opinie uczestników:

"Szkolenie świetne na wysokim poziomie."
"Przyjazna atmosfera, dużo przykładów z życia."
"Ciekawy program. Praktyczne przykłady zastosowania. Jasny przekaz."
"Dobre przedstawienie treści i wytłumaczenie problemów."
"Bardzo jasno przedstawiona treść szkolenia."
"Komunikatywność trenera i uporządkowana wiedza."
"Doskonała komunikatywność z trenerem. Odpowiedzi, zakres szkolenia oraz przykłady."
"Komunikatywność i merytoryczność trenera."
"Bardzo duża umiejętność przekazywania informacji i tłumaczenia."
"Zaangażowanie i pomysłowość trenera."

Dodatkowe informacje:

Cena szkolenia obejmuje:

  • udział w szkoleniu, 
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu,
  • obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek
479224
Data startu:
08.06.2026
Data zakończenia:
10.06.2026
Lokalizacja:
Kraków, ul. Bociana 22a

Identyfikacja szkolenia

ID szkolenia (TQM ID):
247
Symbol szkolenia:
MSARR-N
Nazwa szkolenia:
Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Status produktu szkoleniowego:
Aktualne
Typ szkolenia:
szkolenie otwarte i zamknięte
Ostatnia synchronizacja:
19 May 2025 15:16
Ostatnia aktualizacja:
15 December 2025 15:15
Data wdrożenia:
14 November 2011 00:00

Dane szkolenia

Język szkolenia:
Polski
Czas trwania:
3 dni po 8 godz.
Dni szkoleniowe:
3
Szacunkowy udział części praktycznej:
80
Slug szkolenia powiązanego:
analiza-systemow-pomiarowych-metoda-rr-dla-pomiarow-niepowtarzalnych-szkolenie-online

Kategorie

Tematyka główna:
Metrologia i kontrola, laboratoria
URL tematyki:
/metrologia-i-kontrola-laboratoria/

Dane terminów

Szkolenie zdalne (online):
Gwarantowane:
Gwarantowany:
Wybierz termin:
2026-06-08
Najbliższy termin - zakończenie:
2026-06-10
Najbliższy termin - cena netto:
3300
Najbliższy termin - cena brutto:
0
Najbliższy termin - rozpoczęcie godzina:
08 June 2026 08:30
Najbliższy termin - zakończenie godzina:
10 June 2026 16:30

Treści opisowe

Program i ćwiczenia:
1.  Zdolność systemu pomiarowego. 
2.  Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru. 
3.  Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 
4.  Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka. 
5.  Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny). 
6.  Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R). 
7.  Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV). 
8.  Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc). 
9.  Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 
10.  Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego. 
11.  Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych. 
12.  Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4). 
13.  Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności. 
14.  Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b). 
15.  Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania. 
16.  Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona). 
17.  Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz. 
 
Ćwiczenia: 
  • Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka). 
  • Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności. 
  • Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania. 
  • Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel). 
  • Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 
 
W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem. 
Korzyści dla przedsiębiorstwa:
Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?
Metodyka:

 

Adresaci:
  • Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym. 
  • Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych. 
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC. 
  • Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. 
  • Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań IATF 16949. 
  • Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt). 
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów. 
  • Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców. 
  • Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości. 
  • Inżynierowie procesu. 
  • Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów. 
  • Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.
Zastosowanie:
Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. 
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). 
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek. 
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.
Opinie uczestników:

"Szkolenie świetne na wysokim poziomie."
"Przyjazna atmosfera, dużo przykładów z życia."
"Ciekawy program. Praktyczne przykłady zastosowania. Jasny przekaz."
"Dobre przedstawienie treści i wytłumaczenie problemów."
"Bardzo jasno przedstawiona treść szkolenia."
"Komunikatywność trenera i uporządkowana wiedza."
"Doskonała komunikatywność z trenerem. Odpowiedzi, zakres szkolenia oraz przykłady."
"Komunikatywność i merytoryczność trenera."
"Bardzo duża umiejętność przekazywania informacji i tłumaczenia."
"Zaangażowanie i pomysłowość trenera."

Dodatkowe informacje:

Cena szkolenia obejmuje:

  • udział w szkoleniu, 
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu,
  • obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek

Dodatkowe informacje

Podsumowanie:
Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). 
Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. 
Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. 
Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych.

 
Potrzebujesz pomocy?:

Szkolenia otwarte i zamknięte

Karolina  Paluch

Karolina Paluch

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.zamkniete@tqmsoft.eu
  798 982 919

Anna Wnęk

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu
  452 268 626

Najbliższe szkolenie otwarte

Termin *
3300.00 zł netto 4059.00 zł brutto
Trwa przeliczanie ceny...
Miejsca
Trwa sprawdzanie stanu magazynowego...

Jak się zgłosić na szkolenie?

  1. Pobierz kartę zgłoszenia
  2. Wypełnij i opieczętuj
  3. Wyślij na szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu

Gotowe!


Szukasz

innego terminu, miasta
a masz do przeszkolenia minimum 4 pracowników?

Zapytaj nas o możliwości

Powiązane

MSAKAP

Analiza systemów pomiarowych dla oceny alternatywnej (OK/NOK)

Symbol szkolenia: MSAKAP
2600.00 zł netto
3198.00 zł brutto
Więcej
MSARR

Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych

Symbol szkolenia: MSARR
2600.00 zł netto
3198.00 zł brutto
Więcej
UG-P

Niepewność pomiaru - metodyka szacowania wg ISO i VDA5

Symbol szkolenia: UG-P
2500.00 zł netto
3075.00 zł brutto
Więcej
POM-CMM

Pomiary na maszynach współrzędnościowych

Symbol szkolenia: POM-CMM
2700.00 zł netto
3321.00 zł brutto
Więcej
MTB-STAT

Metody analizy danych procesów produkcyjnych

Symbol szkolenia: MTB-STAT
Więcej
POM-KOR

Testy korozyjne

Symbol szkolenia: POM-KOR
2350.00 zł netto
2890.50 zł brutto
Więcej
SNS-STAT-K

Potrzebujesz pomocy?

Szkolenia otwarte i zamknięte

Karolina  Paluch

Karolina Paluch

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.zamkniete@tqmsoft.eu
  798 982 919

Anna Wnęk

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń
Dział Szkoleń

  szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu
  452 268 626

Szkolenia Katalog szkoleń Metrologia i kontrola, laboratoria Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Ustawienia dostępności
Wysokość linii
Odległość między literami
Wyłącz animacje
Przewodnik czytania
Czytnik
Wyłącz obrazki
Skup się na zawartości
Większy kursor
Skróty klawiszowe